29-01-2019

Seminario Keysight: Caracterización de Señales de Alta Velocidad: Fundamentos y Aplicaciones de Integridad de Señal

Caracterización de Señales de Alta Velocidad: Fundamentos y Aplicaciones de Integridad de Señal

Keysight nos ofrece este seminario titulado “Caracterización de Señales de Alta Velocidad: Fundamentos y Aplicaciones de Integridad de Señal”.  Puede ver los detalles en la página de Keysight (aquí).

   

Introducción:

El continuo aumento del uso de datos por parte de los consumidores ha llevado a adoptar cada vez más señales digitales de alta velocidad en productos electrónicos, lo que aumenta la complejidad de la señal, incluida la forma de medir y depurar su producto. Tomar la decisión correcta al principio de proceso de desarrollo le permitirá evitar repeticiones de prototipos y sacar su producto al mercado antes que la competencia.

Los ingenieros se han habituado tradicionalmente a utilizar osciloscopios. Sin embargo, las nuevas tendencias tecnológicas traen consigo nuevas situaciones de diseño y depuración que requieren el empleo de conocimientos y herramientas adecuadas.

Tanto si es nuevo en el diseño de datos de alta velocidad como si es un veterano con experiencia, el objetivo de este seminario es brindarle conocimientos para llevarlos al laboratorio y utilizarlos de inmediato para acelerar sus medidas y obtener una mayor confianza en sus diseños. Aproveche esta oportunidad para aprender de nuestros expertos sobre instrumentación y su relación con la integridad de señal en las medidas, así como sobre los nuevos desafíos de medida y diseño que puede enfrentar y obtener una mejor comprensión sobre cómo superarlos.

Agenda y Detalles:

  • 09:00 – Presentación e Introducción a la Adquisición Digital de Alta Velocidad
  • 09:20 – Fundamentos de Osciloscopios de Alta Velocidad
  • 11:00 – Café
  • 11:30 – Medidas Avanzadas de Jitter – “Obtenga Información sobre las Medidas de Jitter desde TJ, RJ, BUJ” 
  • 12:30 – Análisis de Crosstalk – “Identifique y Elimine el Crosstalk de sus Diseños con Osciloscopios”
  • 13:30 – Cierre

Fecha: 

Martes, 29 de enero de 2019. 9.00 a 13.30 hs.

Puede ver todos los detalles en la página del evento de Keysight (aquí).

Lugar:

Sala de Grados, edificio A. – Escuela Politécnica Superior
Universidad Autónoma de Madrid (UAM)
Francisco Tomás y Valiente, 11
28049 MADRID

Puede ver como llegar (Aquí).

Registro:

Registrarse en este evento a través de la página web de keysight.